詳細內容

Bruker Tracer 5i 超高性能元素分析儀
所屬分類: 古物/藝術/考古/修復分析儀 XRF/XRD/Raman/FTIR
概述:

市售最高性能的攜帶型XRF. 專為古物/藝術/修復/鑑定/食品, 甚至工業界所需之高階偵測能力所設計!

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詳細介紹

 

強大、彈性兼具互動性的手持式 X 射線螢光分析儀

 

繼原有功能強大的 Tracer系列後, Bruker 再度根據使用者的需求而開發, 提供更高階的攜帶型 XRF產品- Tracer 5i, 其性能是市售一般手持式XRF無法比擬, 在藝術/考古學/鑑定/修復領域擁有第一的市占率, 並受到世界知名各大博物館青睞。

 

 

Bruker 隆重推出新一代 TRACER 手持式 XRF元素分析儀系統,全新 TRACER 5i 經過嶄新設計使性能、操作彈性都更加提升,能夠提供充分的使用者互動,同時還保有 TRACER 舉世公認的獨家功能與全方位分析軟體。

 

 

優勢特點

更低的輕元素偵測能力與檢測下限 (與現有的Tracer系列對照)

元素偵測範圍從F - U, (市售最靈敏之攜帶型XRF分析儀), 非真空或是非氦氣吹拂狀態下極有極佳的輕元素偵測能力

超越一般手持式 XRFF(氟), Ne(氖), Na(鈉), Mg(鎂), Al(鋁), Si(矽)的輕元素檢測範圍與下限

依舊傳承Tracer系列可抽真空的特點 (專用真空幫浦)

氣體流動通道 - 可提供氦氣吹拂, 或搭配其它氣體來協助分析

無線遙控觸發測試功能 (可搭配平板或是電腦)

內建CCD照相機

搭載全新製程的檢測器

無段式電壓電流調整- 完全開放給高階使用者

手動可調式光斑

自動與手動濾波器共存機構- 可隨時手動更換濾波器 (原廠高達百種濾波器可供選購, 針對客戶不同應用)

溫度與壓力補償機制

超過二十種標準檢量線可供選購

市售唯一原廠備有專門針對古物/藝術/考古學專用的檢量線

市售唯一原廠擁有龐大的古物/藝術/考古學專用的分析資料庫

Bruker 高階設備所下放的高階檢量線建立/修正軟體 - 提供更完善的自建資料庫分析功能

全新整合的套裝軟體

 

 

TRACER 5i 分析儀

可滿足各種應用和材料需求,從一般測試、高級應用和各式不斷變化的複雜研究

 


無論是藝術保護和考古學,學術研究,食品安全農業應用,地球化學到先進材料,TRACER 都可以徹底準確地分析元素組成並確定標準或複雜材料。

TRACER 可以分析多種樣品類型,包括液體,漿料,粉末,土壤,沉積物,污泥,纖維素,聚合物,紙,固體,金屬和合金。

 

 

 

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