Bruker 線上研討會: 使用FT-IR光譜儀進行表面化學分析

 

 

適合參加本研討會族群

日常使用紅外光譜法進行鑑定分析的相關人員

 

 

紅外（IR）光譜法對於鑑定化學成分具有高度特異性，因為每種化合物均具有特徵性的紅外光譜，可作為“指紋”來專一地鑑定該化合物。從潤滑劑層到沉積薄膜，再到分子單層，這使IR光譜法成為表徵表面化學特性的最廣泛使用的技術。實驗設計取決於表面成分和形態，並且必須包括特定的採樣附件硬體，將儀器最佳化設置以減少頻譜雜訊等。

 

 

主要學習目標：

本研討會將回顧振動光譜學在表面化學分析儀器和應用方面的最新進展，並對以下主題進行全面討論：

■表面分析技術：

ATR（衰減全反射），包括GATR（grazing angle germanium ATR, 大掠角鍺ATR）；
外部（鏡面）反射，包括IRRAS（infrared reflection and absorption spectroscopy, 紅外反射和吸收光譜）；

DRIFTS（Diffuse Reflection Infrared Fourier Transform Spectroscopy, 漫反射傅立葉變換紅外光譜)
■沉積在金屬、半導體和電介質基板上的薄膜和分子單層的分析
■氣體與催化表面相互作用的異質氣固相催化研究
■用於表面分析的FT-IR儀器參數最佳化
■減少大氣中水和二氧化碳對光譜干擾的技術