用於超微量元素分析的高性能TXRF光譜儀

全反射X射線熒光（TXRF）光譜法是用於各種樣品的痕量元素分析的已知方法。 S4 T-STAR 能夠簡化 TXRF 24/7的日常操作，同時確保分析結果品質。檢測極限的顯著改良伴隨著自動QC程序，有用的軟件程序、樣品類型和載體的獨特多功能性。

優勢
•桌上型 TXRF光譜儀 S4 T-STAR在sub ppb範圍內提供最低檢測限。
•自動質量控制功能提供數據和儀器質量的信心。
•可以直接分析不同載體上許多樣品的最大通用性。
•在工業常規分析中優化 24/7全天候運行。
•設計用於多用戶操作，高容量的 90個樣品。
•樣品盤和其他工具的選擇可加速樣品製備，並最大限度地減少錯誤和污染風險。

關於新藥，食品環境規定的憂慮
•S4 T-STAR 是全球供應鏈中食品欺詐預防的有力工具;例如根據糧農組織/世衛組織標準的食品安全，通過直接分析水稻 As水平低而實現。
•S4 T-STAR 根據即將到來的“美國和歐盟藥典”準則監測藥物生產中的催化劑元素;例如檢測活性藥物成分Sub- ppm催化劑元素和添加劑。
•S4 T-STAR 為水，污水，空氣和土壤分析提供了一個通用的解決方案，用於恢復健康的環境;例如通過直接測量廢水中的污染物，低 ppb範圍內的污泥和污水進行環境監測。

傑出的樣品多樣性

S4 T-STAR 是用於分析不同反射載體上各種樣品類型的通用工具，更優於需要完全溶解液體樣品的 ICP設備。