| 所屬分類: | 手持式元素分析儀 HHXRF |
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| 概述: | 超高感度,次世代手持式元素分析儀 |
!!! 隨時隨地，快速掌握材料元素組成 !!!
*創新突破 - 無須氦氣吹拂或是真空條件, 在大氣環境下即可測得PPM等級的 鈉元素（Na)*
Bruker TITAN III 手持式 XRF 元素分析儀結合高效能 X 光螢光分析技術（X-Ray Fluorescence, XRF）與先進的偵測系統，可於數秒內完成材料元素分析、合金辨識與品質檢測。從鈉（Na）至鈾（U）的元素分析能力，搭配非破壞、免樣品前處理及現場即時量測等特性，協助使用者快速取得可靠數據，加速決策效率。
無論是在製造現場、實驗室、品質管理、生產製程、資源回收或戶外環境，TITAN III 都能提供穩定、精準且可重複的分析結果，是材料分析與元素檢測的理想工具。
在現代製造與品質管理流程中，快速取得正確的材料資訊至關重要。TITAN III 專為現場分析需求打造，兼具高分析速度、優異靈敏度與堅固耐用設計，讓使用者不受環境限制，即可完成專業等級的元素分析。
搭載高解析 Silicon Drift Detector（SDD）偵測器、SharpBeam™ X 光光學系統及智慧化分析平台，即使面對微小樣品、不規則表面或複雜材料，也能維持高精度與高重複性的分析品質。
快速完成元素組成分析與材料辨識，大幅縮短等待時間，提高生產效率與品質管理速度。
無須切割、研磨或破壞樣品，即可直接進行元素分析，完整保留樣品原貌。
可分析從 鈉（Na）至鈾（U）的元素，涵蓋多數工業材料、金屬、礦石及特殊合金。*市場上最高輕元素感度*
採用 Silicon Drift Detector（SDD）搭配石墨烯薄窗技術，可提升低原子序元素的分析能力，提供快速且穩定的分析結果。
最佳化 X 光幾何設計，可搭配小光斑準直器，即使分析微小區域或不規則表面，也能維持優異的準確度與重複性。
輕量化機身搭配直覺式觸控介面，大幅降低操作門檻，即使初次使用亦能快速上手。
具備 IP64 防塵防潑水能力，可適應高溫、粉塵、戶外及工業現場等嚴苛工作環境，提供長時間穩定運作。
支援 USB、Wi-Fi、microSD 等資料傳輸方式，可快速完成量測、儲存、記錄與報告輸出，提升工作效率。
Bruker TITAN III 廣泛應用於各類元素分析與品質控制需求，包括：
半導體與電子產業
金屬材料與合金分析
PMI 材料正確辨識
品質控制（QC）
失效分析（FA）
石油化學產業
發電與能源產業
廢金屬回收與分選
地球化學與礦業探勘
RoHS、CPSIA 及有害物質檢測
食品安全檢驗
環境監測與土壤分析
學術研究與材料科學
相較於傳統實驗室分析流程，TITAN III 可直接於現場完成材料元素分析，立即取得可靠結果，有效降低送樣等待時間，提升品質控管效率。
無論是原物料進料檢驗、生產製程監控、成品驗證、回收材料分類或現場設備維護，皆能協助企業快速完成分析與判斷，降低營運成本並提升整體生產效率。
Dean Tech 為 Bruker 元素分析產品專業代理商，除了提供 TITAN III 手持式 XRF 元素分析儀外，亦提供完整的售前評估、產品教育訓練、應用方法建立、技術支援及售後服務。
我們將依據不同產業與應用需求，協助客戶建立最適合的元素分析解決方案，讓分析結果更快速、更精準、更具價值。
