詳細內容

Bruker M4 Tornado PLUS 顯微微區超輕元素螢光光譜儀
所屬分類: 微區螢光光譜分析儀 Micro XRF
概述:

世界第一台可測得超輕元素的顯微微區螢光光譜分析儀

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詳細介紹

德國柏林總廠正式在近期發表更高階的桌上型微區高解析度的螢光光譜分析儀, 如同一般版本的M4, 此台M4 PLUS擁有點、線與全平面掃描的能力, 同時對於超輕元素有定性與半定量功能,軟體也提供膜厚量測功能, Mapping 能力與解析度並非一般廠牌機種可以媲美。

 

搭載更高性能的 AMS 光學多導毛細管, 以及 M4 PLUS標配兩組60mm2的高解析度 SDD偵測器, 把M4 PLUS的偵測能力推向Carbon等級, 對於碳(C)氮(N)氧(O)、氟(F),在一般版的 M4完全無法偵測的硬體極限下, M4 PLUS可以輕易完成分析(元素檢測範圍是 C – Am , Carbon – Americium)。

 

M4 PLUS 因搭載兩組大面積 SDD偵測器 (由德國柏林總廠自行開發生產製造), 其靈敏度是一般版本的M4十倍, 全平面掃描能力是同級產品的兩倍速度, 並有更高的穿透深度。

 

M4 PLUS是世界第一台 Micro XRF 可偵測到超輕元素, 對於超輕元素的mapping (掃描能力), 可以給予使用者更豐富的參考結果。很多SEM的使用者, 因為樣品的限制性以及無需看到奈米等級, M4 PLUS 提供另外一個理想的選擇,同時 M4 PLUS不似 SEM般會犧牲重元素的偵測能力。

 

 

 

超輕元素檢測 - 最輕可達碳

 

M4 TORNADO PLUS 採用兩個大面積矽漂移探測器,具有超輕元素偵測視窗和專門優化的 Rh X射線管 (光學多導毛細管AMS),是第一個能夠分析超輕元素的 Micro-XRF光譜儀。與常見的Micro-XRF系統不同,M4 TORNADO PLUS 適用於從鈉中檢測元素,它還可以測量原子序數Z <11的元素,如氟,氧,氮和碳,而不影響其性能和靈敏度。通過分析性能的增強,Micro-XRF開拓新的應用領域,如在地球科學和採礦,生物學,聚合物研究或半導體工業。

 

吞吐量的兩倍 - 用於更快的測量

 

M4 TORNADO 雙探測器版本機種已經在這方面引領潮流,提供高達260 kcps的輸出計數率和出色的能量分辨率。 M4 TORNADO PLUS 具有處理高達1,200 kcps (120CPS) 的高階能力,輸出計數率高達550 kcps,可進一步顯著提升這些量測上的限制,實現無與倫比的採集速度和生產率。

 

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