M1 MISTRAL 是一款非常精巧的光譜儀，可利用 X 射線螢光分析技術，對塊狀材料和塗佈層進行分析。您不需要進行任何樣品準備作業，便可以對各種尺寸之樣品進行非破壞性的量測。

其應用範圍包括各種電子元件、珠寶飾品、歐盟危害性物質限制指令(RoHS)、汽車產業等等。

不需要任何準備作業，便可分析各種形狀的樣品

M1 MISTRAL 光譜儀可以針對塊狀材料以及塗佈層進行準確的Micro-XRF 分析。可以分析的元素範圍為Al (鋁) - U (鈾)，量測的元素範圍非常廣泛。無論是金屬、合金和金屬薄膜，包括多層塗佈層系統都沒有問題。
可處理最大尺寸 100 x 100 x 100 mm 的樣品，並直接將其放在樣品平台上進行分析，完全不需要任何準備作業。
在各種形狀的樣品上 – 無論是精雕細琢的珠寶飾品，或者是不同厚度的材料 – 進行無接觸式的量測，讓分析作業變得非常簡單。

在您指定的位置精確地測量

隨著所使用的準直器不同，即使在光斑尺寸小到 100 μm 的情況下，M1 MISTRAL 微米X 射線管也可以產生足夠的強度，而搭配視訊顯微鏡，便可以對樣品做準確地定位，確保在您指定的位置上進行量測，您也可以增加電腦控制樣品平台移動，以及自動聚焦等功能。

選擇應用

M1 MISTRAL 的應用範圍非常廣泛。在此舉三個常見的例子做說明。

珠寶飾品及合金分析

M1 MISTRAL  非常適合用於分析各類珠寶飾品、銅板，或者是珍貴金屬合金。您可以在一分鐘以內，就得知各類珠寶飾品合金、鉑族金屬或銀的確切成分。您可以選擇用重量百分比或者K (Karat) 當作量測單位。

確認是否符合RoHS 規範

高效能版本的M1 MISTRAL 也可以根據RoHS的要求，偵測原子量較低之母材內之微量元素。如此便可直接控制電子和電力裝置中的有害元素濃度。

塗料特性分析

M1 MISTRAL 使用 X 射線螢光技術，可以很有效地分析印刷電路板、金屬或塑膠上面的薄塗料，此技術支援單層以及多層塗佈層塗料的檢測功能。

若無標準樣品，軟體將會使用基本的參數進行分析，可以同時計算出塗佈層的厚度和成分。若使用標準樣品，則可以進一步得到更精確的定量結果。

XSpect Pro 及 XData 分析軟體套件
軟體可提供以下功能：

■儀器控制、資料查詢及管理
■峰值標定
■定量成分分析，無標準樣品及有標準樣品經驗值模型
■金屬多層塗佈層之厚度及成分分析
■產生報告
■結果建檔